介電常數測試儀介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。
1.雙擊LCQ_DAT_GET.EXE文件,打開(kāi)數據采集軟件,注意不要被防火墻關(guān)閉加載的組件.
2.首先點(diǎn)擊Power off按鈕，按鈕中字母變?yōu)镻ower on,同時(shí)界面中間的一條黑色條變?yōu)闉榧t色時(shí)，開(kāi)始正常工作。選擇串口號，根據設備管理器里的端口根據括號里的COM號來(lái)選擇對應的串口。
3.點(diǎn)擊TEST LQ按鍵,設備會(huì )自動(dòng)掃頻測試元器件的電感量,諧振頻率和Q值
4.數據的保存：點(diǎn)擊“保存數據“按鍵 ，將把所測數據保存在RFID_SAVE.txt文件中.可在右下角方框內輸入保存文件的目錄,比如:d:\Qtest\ .如果不設置目錄,則文件保存在與LCQ_DAT_GET.EXE軟件同一目錄下.
5.如果沒(méi)有USB驅動(dòng),請安裝CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.If you do not have a USB driver, install CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.